CISC RAIN Xplorer Inline

CISC  RAIN  Inline  Xplorer ：生產線 RFID Inlay和標簽的高速測試、編碼和加密設備。可集成到任何生產線。

主要優點

1）在生產線對標簽進行高速性能測試，提供 GPIO 接口用于生產線同步及觸發，開放API實現完全自動化控制，壞標弱標標記選項；

2）不降低或限制生產速度

3）支持多個測試點

4）支持多通道測試

主要特點

1）測試頻率從 800 MHz至1 GHz  

2）發射功率范圍從-10dBm到28dBm  

3）靈敏度-80dBm 

4）讀取EPC、TID和存儲器數據

5）寫入EPC和存儲區數據（編碼寫碼）  

6）測量標簽在不同頻率下的靈敏度  

7）單次讀取EPC的測試時間起始為6毫秒

8）集成SAM（安全訪問模塊）

CISC NFC Xplorer Inline

NFC  Xplorer  Inline：生產線中 NFC Inlay 和標簽的高速測試、編碼和加密設備。可集成到任何生產線。

主要優點

1、在生產線對標簽進行高速性能測試，提供 GPIO 接口用于生產線同步及觸發，開放API實現完全自動化控制，壞標弱標標記選項

2、不降低或限制生產速度

3、支持多通道測試

主要特點

1、測試頻率為13.56NHz 

2、可變 H 場強度

3、完全支持 1 到 6 類標簽

4、支持讀寫模式，可用于編碼和寫入個性化信息

5、支持 ISO/IEC 14443 A+B 和 15693 標準

6、測試速度可達每小時 10 萬件

CISC RAIN Xplorer300

RAID Xplorer300分為測試讀寫器的RAID Xplorer300R和測試標簽的RAID Xplorer300T：

RAID Xplorer300R用于測量讀寫器的性能和一致性；嗅探功能可監聽讀寫器和標簽之間的通信。讀寫器性能測試、規范測試：

  1）Tx VS Rx靈敏度、BLF  VS  Rx靈敏度測量。

  2）接收靈敏度穩定性監控

  3）相位及阻抗變化對接收靈敏度的影響測量

  4）真實反映讀寫器與標簽之間的通信

  5）通過標簽仿真模塊監控場強

  6）讀寫器規范性測試

RAID Xplorer300T：用于測量RFID Inlay或標簽性能。

  1）標簽喚醒、反向功率及距離測試

  2）標簽方向靈敏度測試

  3）標簽反向曲線測試

  4）標簽數據解碼、指令時序、功率及占空比測量

  5）ISO/IEC29167加密套件規范性等功能

  6）支持SINIAV、ARTESP及Brasil-ID協議

NFC  Xplorer

測量 NFC 標簽的性能和一致性的 NFC 實驗室測試儀器，NFC讀寫器可通過嗅探器功能進行測試。

主要特點：

1、高精度 

2、快速且易于使用的圖形用戶界面 

3、支持多種協議 

4、標準和用戶自定義命令 

測試模式 ：

1、標簽性能和一致性 

2、讀寫器--標簽通信和射頻信號分析 

支持的標準和協議 

1、通信協議 

   ISO/IEC 14443 A 

   ISO/IEC 14443 B 

   ISO/IEC 15693, 

   ISO/IEC 18000-3M1 

   ISO 18092 NFC 

 2、測試標準 

   ISO/IEC 10373-6 

   ISO/IEC 10373-7